SPS-1000，SPS-2000和SPS-2200系統是MicroXact首要的手動探針臺，設計靈活且易于使用。這些手動探針系統的高性能和經濟性使它們屬于自己的一類。憑借高達200mm的晶圓功能，DC或RF探頭和可選的熱卡盤以及各種屏蔽選項，我們的探針臺可用于廣泛的應用，例如故障分析，可靠性測試，IV / CV測試，低目前的測試，微波和射頻表征等等。

隨著半導體變得越來越小和越來越復雜，有必要更密切地監控和控制生產，特別是在該過程的更上游。使用MicroXact的半自動探針臺進行的晶圓級可靠性測試通過一系列壓力測試收集數據，以識別可能影響器件長期可靠性的不規則性。盡管并非總是需要，但在晶片級可靠性測試之后可以進行進一步的和廣泛的故障分析。 系統構建在一個重型，通用的平臺上，能夠配置為處理各種探測應用。

SPS 2600-HP，SPS 2800-HP和SPS 12000-HP系列系統是MicroXact的半自動探針臺，設計靈活，易于使用，可用于高效設備表征，晶圓級可靠性測試和故障分析。這些半自動探針臺系統設計用于支持多200mm晶圓的手動和半自動探測。

MicroXact的半自動探針臺提供多種選擇，包括加熱/冷卻晶圓卡盤，標準或數字顯微鏡以及可編程平臺分度，為您的所有高效設備表征提供經濟高效且易于使用的解決方案。晶圓級可靠性測試需求。這些半自動探針臺有三種選擇（標準，高精度和高速）。

LCS-4000系列分析探針臺配有激光切割系統 帶有集成激光切割系統的LCS-4000探針臺為用戶提供了半導體診斷切割，失效分析，修整，標記和頂層去除的大靈活性。所有這些功能都可以在微觀層面上進行，所有這些都在這一系統上進行，這提供了非常易于使用的高水平性能。

A4P四點探針自動電阻率測繪系統 A4P系列晶圓電阻率映射器使用經過驗證的行業標準，可以快速，準確，可靠地測量樣品電阻率分布。MicroXact的四點探針通過使電流通過四點探頭的外部點并測量內部點的電壓來測量半導體晶圓層的平均電阻。然后可以通過將薄層電阻乘以薄膜的厚度來找到電阻率的值，即賦予其電阻的材料的性質。